磁阻法测厚仪 测厚仪 型号: HCC-24
可快速无损地测量导磁材料表面上非导磁覆盖层厚 度。例如:铁和钢上的铜、锌、镉、铬镀层和油漆层等。由于集成电路和微处理器的应用,使本仪器具有操作简 单、使用方便、稳定性好、测量精度高的优点。仪器具有数理统计功能,可直接显示测量的平均值、大值、小 值、标准偏差及测量次数等统计数据。
磁阻法测厚仪 采用电磁感应原理进行测量,符合标准 ISO2178和国家标准GB4956。当探头与覆盖层接触时,探头和磁性基体构成一闭合磁回路,由于非磁性覆盖层存在, 使磁路磁阻增加,磁阻的大小正比于覆盖层的厚度。通过对磁阻的测量,经电脑进行分析处理,由液晶显示器直接 显示出测量值
磁阻法测厚仪 技术参数
1)测量范围: 0μm~1200μm。
2) 示值误差: ± (1~3%H+1μm) , H为被测涂层厚 度。
3)分 辨 率: 1μm。
4)小测量面的直径: φ10 mm。
5)显 示: 4位LCD显示测量的平均值、大值、小值、标准偏差和测量次数,同时指示仪器的工作状态及电池使用情况。
6) 电 源:一节6F22型9V电池。
7) 外形尺寸: 160mm×80mm×30mm。
8) 质 量:约250g。
9)使用环境:温度0℃~40℃;相对湿度不大于90%。