微机路灯控制器 智能路灯控制器 高精度路灯控制器
WLK2000-10系列是一种采用液晶显示的微机路灯控制智能仪器。其中WLK2000-10G采用高精度TCXO时闻集成模块为计时元件,高性能单片机为核心,采取特殊的抗干扰措施,具有走时精确,运行可靠的特点。
主要技术参数:
负载功率:~220V 10A
适应温度:-20℃ ~+50℃
走时精度:<±1秒/天(普)
<±0.1秒/天(高)
掉电运行:十年(累计)
外型尺寸:19.5×12×6.5CM
微机路灯控制器 智能路灯控制器 高精度路灯控制器
WLK2000-10系列是一种采用液晶显示的微机路灯控制智能仪器。其中WLK2000-10G采用高精度TCXO时闻集成模块为计时元件,高性能单片机为核心,采取特殊的抗干扰措施,具有走时精确,运行可靠的特点。
主要技术参数:
负载功率:~220V 10A
适应温度:-20℃ ~+50℃
走时精度:<±1秒/天(普)
<±0.1秒/天(高)
掉电运行:十年(累计)
外型尺寸:19.5×12×6.5CM
WLK2000-10系列是一种采用液晶显示的微机路灯控制智能仪器。其中WLK2000-10G采用高精度TCXO时闻集成模块为计时元件,高性能单片机为核心,采取特殊的抗干扰措施,具有走时精确,运行可靠的特点。
主要技术参数:
负载功率:~220V 10A
适应温度:-20℃ ~+50℃
走时精度:<±1秒/天(普)
<±0.1秒/天(高)
掉电运行:十年(累计)
外型尺寸:19.5×12×6.5CM
| 产品名称:非接触厚度电阻率测试仪 产品型号:JXNRT1 |
非接触厚度电阻率测试仪型号:JXNRT1 一、测试原理 1、电阻率测试探头原理 电阻率测试模块是由一对共轴涡流传感器,以及后续的处理电路组成。将半导体硅片置于两个探头的间隙中时,在电磁场的作用下,半导体硅片中会产生涡流效应,通过检测涡流效应的大小,可以换算出该硅片的电阻率和方块电阻。本方法是一种非接触无损测量的方法,不损伤材料表面,可以在大多数场合有效替代四探针法测试电阻率以及方块电阻。 2、厚度测试探头原理 厚度探头采用的是一对共轴电容位移传感器。电容传感器具有重复性好,测试数值稳定,技术成熟等优点,广泛用于各种材料厚度的测试。 二、适用范围 本设备为非接触无损测量设备,测试过程中对硅片表面以及内部不会造成损伤。特别适用于代替四探针法用于半导体硅片成品分选检验。一台仪器可以同时对厚度和电阻率两个指标进行测试分选,减少了测试工序和测试时间,提高了测试效率。 典型的客户:科研单位、硅片生产厂商、半导体器件生产厂商、光伏企业、导电薄膜生产企业。 三、仪器构成 1、测试主机:1 台 2、电源线:1 根 3、串口数据线:1 根 4、电脑端软件:1 套 5、塑料定位柱:2 个
四、仪器外观尺寸结构及图片 1、整机尺寸:340*260*180mm 2、机箱颜色:电脑白
3、仪器结构:本仪器采用厚度探头和电阻率探头前后并列安装的方式。 五、仪器主要指标 1、电气规格 a. 使用标准三插头,由 220V 交流电供电,整机功耗小于 15 瓦。 b. 本仪器测试平台和外壳均为金属材料,按照安全规范,请确保电源地线正确连接。 2、测试范围 测试样品要求:厚度小于 600um 的半导体硅片以及其他类似材料。(为客户提供特殊定制,厚度大的测试范围可以扩展到 800um) 电阻率范围: L 档: 0.2-5 Ω·cm H 档: 5-50 Ω·cm 注: 电阻率不在上述量程范围内的可以按要求调整, 调整的范围可以在0.001-100Ω*cm。 厚度范围: 100-600 um (定制版可以做到 300-800um) 注:普通版本厚度大于 700um 的硅片无法放入测试区域。
高频信号发生器 型号:RSG-17 产品介绍 RSG-17高频信号发生器能满足生产线,业余爱好者及维修等多方面的的频率需求,操作者通过可调的内置调制频率便可准确的判断出所选频段 型号 | RSG-17 | 频段范围 | A:100kHz~300kHz | B:300kHz~1MHz | C:1MHz~3.2MHz | D: 3MHz~10MHz | E: 10MHz~35MHz | F:32MHz~150MHz | 三次谐波可达到450MHz | 频率精度 | ±5% | 输出波形 | RF/AM 信号波形 | 输出阻抗 | 1000Ω | 射频输出 | >100mVrms(档频率≤35MHz) | 电平控制 | 1mV~100mV | 调制 | 内部 | 150Hz~1.5kHz 调幅约0~30%可调节 | 外部 | ≥50Hz~20kHz , 1V峰值 | 电源要求 | AC:220V±10% 50Hz/60Hz | 尺寸 | 280×140×200mm | 重量 | 2.5Kg | 配件 | 电源线、带BNC测试线 |
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