双电测四探针测试仪 双电测四探针测定仪 双电测四探针电阻率测试仪
本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制

双电测四探针测试仪 双电测四探针测定仪 双电测四探针电阻率测试仪

本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购. 
双电测四探针测试仪 双电测四探针测定仪 双电测四探针电阻率测试仪双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。 
提供中文或英文两种语言操作界面选择，满足国内及国外客户需求 
广泛用于：覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试 
硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻  半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率  导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等 
参数资料 
1.方块电阻范围：10-5～2×105Ω/□ 
2.电阻率范围：10-6～2×106Ω-cm 
3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA 
4.电流精度：±0.1%读数 
5.电阻精度：≤0.3% 
6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率 
7.测试方式: 双电测量 
8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W 
9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果） 
10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台 
11.测试探头：  探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针

产品名称：玻璃盘管冷凝器 产品型号：LNQ 玻璃盘管冷凝器 型号：LNQ   换热面积M2 DN DN1 DN2 Lmm L1mm L2mm 1 Ø180 25 25 620 430 65 Ø180 25 40 620 430 80 Ø180 25 50 620 430 85 Ø180 25 80 620 430 100 Ø180 25 100 620 430 125 1.5 Ø230 40 25 725 485 65 Ø230 40 40 725 485 80 Ø230 40 50 725 485 85 Ø230 40 80 725 485 100 Ø230 40 100 725 485 125 2 300 50 50 760 485 85 300 50 80 760 485 100 300 50 100 760 485 125   注：玻璃盘管冷凝器 ！     换热面积M2 DN DN1 Lmm 2.5 300 4*25 600   〖 关闭 〗