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瞬态平面热源法导热仪型号:DR-5
瞬态平面热源法导热仪DR-5 测试对象
金属、陶瓷、合金、矿石、聚合物、复合材料、纸、织物、泡沫塑料(表面平整的隔热材料、板材)、矿物棉、水泥墙体、玻璃增强复合板CRC、水泥聚苯板、夹心混凝土、玻璃钢面板复合板材、纸蜂窝板等等,测试对象广泛。
瞬态平面热源法导热仪DR-5 工作原理
瞬态平面热源技术(TPS)是用于测量导热系数的一种新型的方法,由瑞典Chalmer 理工大学的 Silas Gustafsson 教授在热线法的基础上发展起来的。它测定材料热物性的原理是基于无限大介质中阶跃加热的圆盘形热源产生的瞬态温度响应。利用热阻性材料做成一个平面的探头,同时作为热源和温度传感器。合金的热阻系数一温度和电阻的关系呈线性关系,即通过了解电阻的变化可以知道热量的损失,从而反映了样品的导热性能。该方法的探头即是采用导电合金经刻蚀处理后形成的连续双螺旋结构薄片,外层为双层的绝缘保护层,厚度很薄,它令探头具有一定的机械强度并保持与样品之间的电绝缘性。在测试过程中,探头被放置于样品中间进行测试。电流通过探头时, 产生一定的温度上升,产生的热量同时向探头两侧的样品进行扩散,热扩散的速度依赖于材料的热传导特性。通过记录温度与探头的响应时间,由数学模型可以直接得到导热系数。
利用瞬态平面热源技术(TPS)开发的导热系数测试仪,可用于各种不同类型材料的热传导性能的测试。
瞬态平面热源法是研究热传导性能中精确、方便、快速的一种方法。它是一种新技术,在研究材料时能够快速准确的测量热导率。该方法采用双螺旋结构的平面探头用合金薄片刻蚀而成。测量时,平面探头要放置在两个样品之间(如图 6), 探头既是热源,又是传感器。
仪器特点
1、测试范围广泛,测试性能稳定,在国内同类仪器中,处于领xian水平;
2、直接测量,测试时间 4-160s 左右可设置,能快速测出导热系数,节约了大量的时间;
3、不会和静态法一样受到接触热阻的影响 ;
4、无须特别的样品制备,对样品形状并无特殊要求,只需相对平滑的样品表面并且满足长宽至少为探头直径的两倍即可,;
5、可用于固体、涂层、薄膜、保温材料等热物性参数的测定;
6、智能化的人机界面,彩色液晶屏显示,简洁的操作;
7、强大的数据处理能力。高度自动化的计算机数据通讯和报告处理系统。
技术参数
型 号:DR-5
测试范围:0.005—300W/(m*K) 测量温度范围:室温—130℃ 探头直径:15 mm
精度:±3%
重复性误差:≤3% 测量时间:1~160 秒电源:AC 220V
整机功率:﹤500w
仪器尺寸:450*385*165mm
差热分析仪 型号:DTA-1250
产品详情
仪器简介:
差热分析是在程序控制温度下,测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。在DTA试验中,样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。
仪器用途:
主要测量与热量有关的物理、化学变化,如物质的熔点、熔化热、结晶与结晶热、相变反应热、热稳定性(氧化诱导期)、玻璃化转变温度、氧化或还原反应,晶格结构的破坏和其他化学反应。
技术参数:
1. 温度范围: 室温~1250℃
2. 量程范围: 0~±2000μV
3. 升温速率: 0.1~80℃/min
4. 温度分辨率: 0.1℃
5. 温度重复性: ±0.1℃
6. DTA精度: 0.01μV
7. 控温方式: 升温:程序控制 可根据需要进行参数的调整
恒温:程序控制 恒温时间任意设定
8. 曲线扫描: 升温扫描
9. 气氛控制: 仪器自动切换
10. 气体流量:0-200mL/min
11. 气体压力:0.2MPa
12. 显示方式:24bit色 7寸LCD触摸屏显示
13. 数据接口: 标准USB接口
14. 参数标准: 配有标准物质,带有一键校准功能,用户可自行校正温度和热焓
15. 工作电源: AC 220V 50Hz或定制
16. 功率:600W
主要特点:
1. 全新全封闭式金属炉体设计结构,大大提升解析度和分辨率以及更好的基线稳定性。
2. 采用进口合金传感器,更抗腐蚀,抗氧化,传感器灵敏度高。
3. 完善的两路气氛控制系统,精确控制吹扫气体流量,软件设置自动切换,数据直接记录在数据库中。
4. 采用Cortex-M3内核ARM控制器,运算处理速度更快,温度控制更精确。
5. 采用USB双向通讯,操作更便捷,支持自恢复连接功能。
6. 采用7寸24bit色全彩LCD触摸屏,实时显示仪器的状态和数据。
7. 仪器配有标准物质,用户可自行进行各温度段的校正,减少仪器的误差。
8. 智能化软件设计,仪器全程自动绘图,软件可实现各种数据处理,如热焓的计算、玻璃化转变温度、氧化诱导期、物质的熔点及结晶等等。
参考标准:
GB/T 19466.2 – 2004 / ISO 11357-2: 1999第2部分:玻璃化转变温度的测定;
GB/T 19466.3 – 2004 / ISO 11357-3: 1999第3部分:熔融和结晶温度及热焓的测定;
GB /T 19466.6- 2009/ISO 11357-3 :1999 第6部分氧化诱导期 氧化诱导时间(等温OIT)和氧化诱导温度(动要态OIT)的测定。
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