四探针电阻率测定仪用来测量半导体材料（主要是硅单晶、锗单晶、硅片）电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。它主要由电气测量部份（简称：主机）、测试架及四探针头组成。

四探针电阻率测试仪 四探针电阻率仪 方阻测试仪 方阻仪 四探针电阻率测定仪（自动测试台+带软件）

四探针电阻率测试仪 四探针电阻率仪 型号：TR-KDY-1

四探针电阻率测试仪 四探针电阻率仪 方阻测试仪 方阻仪 四探针电阻率测定仪（自动测试台+带软件）

产品编号：TC-004959

四探针电阻率/方阻测试仪（以下简称电阻率测试仪）是用来测量半导体材料（主要是硅单晶、锗单晶、硅片）电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。它主要由电气测量部份（简称：主机）、测试架及四探针头组成。
本仪器的特点是主机配置双数字表，在测量电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全程的电流变化，免除了测量电流/测量电阻率的转换，更及时掌控测量电流。主机还提供精度为0.05%的恒流源，使测量电流高度稳定。本机配有恒流源开关，在测量某些箔层材料时，可免除探针尖与被测材料之间接触火花的发生，更好地保护箔膜。仪器配置了本公司的产品：“小游移四探针头”，探针游移率在0.1～0.2%。保证了仪器测量电阻率的重复性和准确度。本机如加配HQ-710E数据处理器，测量硅片时可自动进行厚度、直径、探针间距的修正，并计算、打印出硅片电阻率、径向电阻率的zui大百分变化、平均百分变化、径向电阻率不均习庋。给测量带来很大方便。
2、主机技术能数
（1）测量范围：
可测电阻率：0.0001～19000Ω•cm
可测方块电阻：0.001～1900Ω•□
（2）恒流源：
输出电流：DC 0.001～100mA 五档连续可调
量程：0.001～0.01mA
0.01～0.10mA
0.10～1.0mA
1.0～10mA
10～100mA
恒流精度：各档均低于±0.05%
（3）直流数字电压表：
测量范围：0～199.99mV
灵敏度：10μV
基本误差：±（0.004%读数+0.01%满度）
输出电源：≥1000ΩM
（4）供电电源：
AC 220V±10% 50/60 Hz 功率：12W
（5）使用环境：
温度：23±2℃ 相对湿度：≤65%
无较强的电场干扰，无强光直接照射
（6）重量、体积：
主机重量：7.5kg
体积：365×380×160（单位：mm 长度×宽度×高度）

备注：
等级测量时（测电阻率），精度<3%
电气测量时（测电阻），精度在0.3%以内

备注：
仪器包括：主机一台；测试架（包括台面）一个；四探针头1个；软件

产品名称：热膨胀系数仪 热膨胀仪 产品型号：PCY-1200 热膨胀系数仪 热膨胀仪 型号：PCY-1200  一、概述：  PCY系列热膨胀仪用于检测固体无机材料、金属材料的高温膨胀性能，特别是刚玉、耐火材料、精铸用型壳及型芯材料、陶瓷、陶瓷原料、瓷泥、釉料、玻璃、石墨、炭素等无机(有机)材料、金属制品,高分子材料的性能，为科研、教学提供*的测试手段。通过本仪可完成试样线变量、线膨胀系数、体膨胀系数、急热膨胀、软化温度、烧结的动力学研究、玻璃化转变温度、相转变、密度变化、烧结速率控制（RCS）以及它们变化曲线。也可根椐用户要求对试样进行气氛保护，可抽真空，真空度0.1MPa。   PCY热膨胀仪也适用于GB/T3810.8-2006对陶瓷砖线性热膨胀的测定,GB/T16920-1997对玻璃平均线热膨胀系数的测定,GB/T3074（1）.4-2003对石墨电热膨胀系数的测定,GB/T 7320-87《耐火制品热膨胀试验方法》,也*食品药监局药包材YBB00282002【线热膨胀系数检测】。   二、主要技术参数：  1、高炉温：1200℃，1400℃，1700℃由客户自选。   2、升温速度：0-100度/分可调，电脑程序控温。   3、计算机自动计算膨胀系数、体膨胀系数、线膨胀量,急热膨胀。   4、自动计算补偿系数并自动补偿，也可人工修正（在线）。   5、自动记录、存储、打印数椐，打印温度-膨胀系数曲线。   温度间距自由设定，小间距1℃。   6、膨胀值测量范围：±5mm。   7、测量膨胀值分辨率：0.1-1um，自动校正量程。   8、试样范围（2-15）×（2-15）×（20-150）mm,方形/园形均可。   9、采用进口直线轴承传动，实现膨胀值无磨擦传递，传动精度及重复性好。   10、系统测量误差：±0.1-0.5%。   11、电源电压：220V±10﹪，2KW。   12、仪器配有标准计算机接口，可与通用计算机相联，所有试验操作均计算机界面完成，操作方便易学并提供全套软件。   ( 配有炭素行业检测软件)