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冰箱系统测水仪CD/USI-3
产品简介:
以干燥载气将被测样件内的残留水载入仪器内的电解池进行吸收和电解,通过所消耗的电量积分测知被测系统残留水总量,并以mg为单位显示。
该仪器适用于测定电冰箱或空调蒸发器、冷凝器及其它封闭系统内的残留水总量,具有准确、快速、操作方便等优点,而且用户可随时很方便地用标样(一定量的蒸馏水)检定仪器的可靠性。
主要技术指标:
测量范围:0~100mg (必要时可扩大)
冰箱系统测水仪CD/USI-3准确度:不大于±3% (含水量大于1mg时)
或不大于±0.030mg (含水量小于或等于1mg时)
工作条件:电源:交流220±22V, 50~60Hz 直流:10~45V(仅供干燥时选用)
环境温度:5~40℃
载气(钢瓶氮气):含水量<200μL/L
流量 70±20 mL/min
外型尺寸:360mm(W)×160mm(H)×340mm(D)
输出信号:0~10mV ,可选配RS232接口及软件,以保存数据和打印报告。
重 量:约5kg
电测水位计 型号:DP68BS
DP68BS系列便携式电测水位计适用于地质、矿山、水文等部门的水文观测孔、地质钻孔、水井、水库大坝及江河湖海的直接测量zui后计算读数之差得出zui后结果,以替代目前常用的测绳、测钟、电线、万用表等原始落后的简易测水方法。
DP68BS系列便携式电测水位计由测线、探头、水位检测器、卷线轮、支架、导电机构、摇把、皮背包等组成,其主要特点是体积小、重量轻、价格便宜、携带方便。
测量方法:
技术特点:
① zui大测量深度:700m
② zui大测量误差:≤±0.1%F.S(zui大±0.1
m/100m),达到ISO规定的三级水位计精度标准。
③ 探头直径:14mm,探头敏感区域≤±5mm。
④ 重复测量精度:≤±10mm。
⑤ 测线技术条件:外径2.0,7/0.25镀锌钢芯,高密度聚乙烯缘,破断拉≥25 kgf。
⑥ 水位检测器灵敏度:外接大地电阻≥500KΩ。
⑦ 水位检测器功耗:≤15mA。
⑧ 水位检测器电源:6F22、9V叠层电池。
⑨ 使用环境:-20℃~+40℃,相对湿度85%。
外形尺寸(mm):330x86x220
探头:Φ14
雷达遥测水位计 遥测水位计 型号:XD2206-LD
雷达遥测水位计多用于淤积非常严重的引黄灌区渠道或河道的水位监测。雷达遥测水位计为一体化水位遥测设备,安装在渠道边上的安装杆上,由于雷达遥测水位计,利用电磁波作为传输介质,因此测量精度不受温度、潮湿、风速的影响,是一款高精度、高可靠的水位测量设备。
雷达遥测水位计特点:
●雷达遥测水位计采用一体化结构,用于多淤积渠道或河道的高精度、高稳定、高可靠的水位测量;
●设备构成:将雷达水位计、智能电路、GPRS远程通讯电路、现地无线射频电路、密封壳、太阳能电池板及充电控制电路、喇叭口雷达天线高度集成,一体化设计;
●正常情况下,水位上报次数每天1-24次,可由上位软件设定;
●当水位变化率过设定值时(即水位跳变),水位值立即上报,水位跳变值由上位软件设定;
●水位上限可预设,水位过此值, GPRS上报时间间隔可以任意由上位软件设定;
●用无线手操器在10米范围内,可进行水位校准;
●通过GPRS无线网络与远程上位计算机进行数据传输。
相关产品:水位监测软件 XD-2C00
产品名称:气固相流化床催化反应实验装置 产品型号:TH-CHLHC |
气固相流化床催化反应实验装置 型号:TH-CHLHC
实验目的:
1、了解流化床反应器的工作原理及结构。
2、加氢、脱氢、氧化、烃化、芳构化、氨化等有机催化反应。
主要配置:
流化床反应器、预热器、计量泵、风机、气体转子流量计、湿式气体流量计、温控仪表、压力仪表、不锈钢框架及控制屏。
技术参数:
1、不锈钢反应器:φ25×650mm。三段加热,总功率:3KW,使用温度:6000C。
2、预热器:φ10×250mm,加热功率:1KW。
3、催化剂装载量:10-150ml。
4、气体转子流量计量程:0.05-0.5L/min。
5、风机:采用HG-370W型空气旋涡泵;功率:370W;风压:11.76kPa;风量:48m3/h。
6、泵的型号微型隔膜计量泵;功率:30W;流量:9L/h;冲程频率:120/minute;吸程:2m。
7、湿式气体流量计:型号:LML-2,额定流量:0.5m3/h,容积:5L/转,精度:±1%。
8、冷凝器:φ40×400mm;气液分离器:φ50×150mm。
9、各项操作及压力、流量的显示、调节、控制全在控制屏板面进行。
10、框架为不锈钢材质,结构紧凑,外形美观,流程简单、操作方便。
11、外形尺寸:1600×600×1800mm。
数据采集 配计算机、微机接口和数据处理软件、温度传感器、温度巡检仪。能在线监测温度实验数据。
产品名称:数字式硅晶体少子寿命测试仪/少子寿命测试仪 产品型号:DZ-LT-100C |
数字式硅晶体少子寿命测试仪 型号:ZD-LT-100C
为解决太阳能单晶、多晶少子寿命测量,特按照国标GB/T1553及SEMI MF-1535用高频光电导法研制出了数字式少子寿命测试仪。
该设备是按照标准GB/T1553“硅单晶少数载流子寿命测定的高频光电导衰减法”设计制造。高频光电导衰减法在我国半导体集成电路、晶体管、整流器件、核探测器行业已运用了三十多年,积累了丰富的使用经验,经过数次全国十多个单位巡回测试的考验,证明是一种成熟可靠的测试方法,特别适合于硅块、硅棒研磨面的少子体寿命测量;也可对硅片进行测量,给出相对寿命值。方法本身对样品表面的要求为研磨面,制样简便。
DZ-LT-100C数字式硅晶体少子寿命测试仪有以下特点:
1、 可测量太阳能级多晶硅块、单晶硅棒少数载流子体寿命。表面无需抛光,直接对切割面或研磨面进行测量。同时可测量多晶硅检验棒及集成电路、整流器、晶体管级硅单晶的少子寿命。
2、 可测量太阳能级单晶及多晶硅片少数载流子的相对寿命,表面无需抛光、钝化。
3、配备软件的数字示波器,液晶屏上直接显示少子寿命值,同时显示动态光电导衰退波形,并可联用打印机及计算机。
4、配置两种波长的红外光源:
a、红外光源,光穿透硅晶体深度较深≥500μm,有利于准确测量晶体少数载流子体寿命。
b、短波长红外脉冲激光器,光穿透硅晶体深度较浅≈30μm,但光强较强,有利于测量低阻太阳能级硅晶体。
5、测量范围宽广
测试仪可直接测量:
a、研磨或切割面:电阻率≥0.3Ω•㎝的单晶硅棒、定向结晶多晶硅块少子体寿命,切割片的少子相对寿命。
b、抛光面:电阻率在0.3~0.01Ω•㎝范围内的硅单晶、锗单晶抛光片。
寿命可测范围 0.25μS—10ms
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