数字式硅晶体少子寿命测试仪
为解决太阳能单晶、多晶少子寿命测量，特按照国标GB/T1553及SEMI MF-1535用高频光电导法研制出了数字式少子寿命测试仪。

数字式硅晶体少子寿命测试仪

数字式硅晶体少子寿命测试仪

型号：ZD-LT-100C
 

产品编号：TC-002064

为解决太阳能单晶、多晶少子寿命测量，特按照国标GB/T1553及SEMI MF-1535用高频光电导法研制出了数字式少子寿命测试仪。                                                       
      该设备是按照标准GB/T1553“硅单晶少数载流子寿命测定的高频光电导衰减法”设计制造。高频光电导衰减法在我国半导体集成电路、晶体管、整流器件、核探测器行业已运用了三十多年，积累了丰富的使用经验，经过数次全国十多个单位巡回测试的考验，证明是一种成熟可靠的测试方法，特别适合于硅块、硅棒研磨面的少子体寿命测量；也可对硅片进行测量，给出相对寿命值。方法本身对样品表面的要求为研磨面，制样简便。

DZ-LT-100C有以下特点：
1、 可测量太阳能级多晶硅块、单晶硅棒少数载流子体寿命。表面无需抛光，直接对切割面或研磨面进行测量。同时可测量多晶硅检验棒及集成电路、整流器、晶体管级硅单晶的少子寿命。
2、  可测量太阳能级单晶及多晶硅片少数载流子的相对寿命，表面无需抛光、钝化。
3、配备软件的数字示波器，液晶屏上直接显示少子寿命值，同时显示动态光电导衰退波形，并可联用打印机及计算机。
4、配置两种波长的红外光源：
a、红外光源，光穿透硅晶体深度较深≥500μm，有利于准确测量晶体少数载流子体寿命。
b、短波长红外脉冲激光器，光穿透硅晶体深度较浅≈30μm，但光强较强，有利于测量低阻太阳能级硅晶体。
5、测量范围宽广
测试仪可直接测量：
a、研磨或切割面：电阻率≥0.3Ω•㎝的单晶硅棒、定向结晶多晶硅块少子体寿命，切割片的少子相对寿命。
b、抛光面：电阻率在0.3～0.01Ω•㎝范围内的硅单晶、锗单晶抛光片。
寿命可测范围     0.25μS—10ms

微波光电导载流子复合寿命测试仪 型号： WJ-100A 
 产品简介 
      WJ-100A型微波光电导载流子复合寿命测试仪是参照半导体设备和材料组织SEMI标准MF1535-0707及标准GB/T 26068-2010设计制造。并且我单位是微波反射法标准起草单位之一。本设备采用微波反射无接触光电导衰退测量方法，适用于厚度为1mm以下的硅片、电池片少数载流子寿命的测量，提供无接触、无损伤、数字显示的快速测量。寿命测量可灵敏地反映半导体重金属污染及缺陷存在的情况，是半导体质量的重要检测项目。 
      寿命测量范围：0.25μs-10ms；样品电阻率下限>0.5Ω·cm。 
      读数方式：数字直读。

产品名称：雨量计专业数据采集器 产品型号： CJ-1

雨量计专业数据采集器型号： CJ-1

 CJ-1型数据采集器，基于美国德州仪器公司的MSP430微型计算机设计，全部采用进口集成电路制造，功耗低、性能稳定。早期出厂的CJ-1采集器，有的使用已经过10年，依然*地运行良好。 
    CJ-1型数据采集器包括：雨量信号输入接口、CPU处理器、数据存储器、RS232通信接口等工作单元。从雨量计采集到的降雨数据，经过微机运算并储存，通过RS232数据转换后，用无线远程发送至服务器（外加GPRS无线模块）、或有线直接传递至本地电脑，提供雨量的实时监测、历时查询、预警报警等重要而有效的降雨量监控。 
    CJ-1型数据采集器允许两种电源输入：220V交流、或12V太阳能，用户可以根据自己所在地的电源情况选择。同时，它还内置了备用电池，当外界停电时，此备用电源可以提供72小时（三天）的工作电压，以确保雨量数据传输不间断。 
    性能指标： 
    1. 输入接口： 脉冲，分辨率0.1mm 
    2. 输出接口： RS232  ×2 个   
    3. 工作电压： 交流220V±10%    或  直流 12V（太阳能） 
    4. 功    耗： 0.5W             或 2.1W（外接GPRS模块） 
    5. 数据保存： 12个月（雨量数据） 
    6. 工作温度： -40℃～60℃   
    7. 外形尺寸： 383mm（宽）×251mm（高）×70mm（厚） 
    8. 重    量： 约 7.1Kg 

产品名称：静电接地夹(螺旋线长为8米) 产品型号：ZJ-SC-03

静电接地夹(螺旋线长为8米)  型号：ZJ-SC-03

1主要适用于槽车接地。
2传感型回路静电接地夹，可与电子设备连接 
3铸铝材质，整体防爆 
尺寸：160mm*90mm*45mm
螺旋线长为8米