手机翻盖寿命试验机 翻盖寿命检测仪
本机采用液晶触摸人机介面，大介面直观大方；控制部分采用PLC，性能可靠；由于采用步进电机驱动，角度准确、方便，供电系统经过整流设置，大地提高了机器电路部分使用寿命和可靠性。

手机翻盖寿命试验机 翻盖寿命检测仪

手机翻盖寿命试验机 翻盖寿命检测仪

型号：TCOM

 晶体少子寿命测试仪型号：LT-200

LT-200数字式太阳能级硅晶体少子寿命测试仪简介 
1. 仪器应用范围及说明 
本设备是按照标准GB/T1553“硅单晶少数载流子寿命测定的高频光电导衰减法”设计制造。高频光电导衰减法在我国半导体集成电路、晶体管、整流器件、核探器行业已运用了三十多年，积累了丰富的使用经验，经过数次全国十多个单位巡回测试的考验，证明是一种成熟可靠的测试方法，特别适合于硅块、硅棒的少子体寿命测量；也可对硅片进行测量，给出相对寿命值。方法本身对样品表面的要求为研磨面，因此制样特别简便。 
昆德公司数字式硅晶体少子寿命测试仪有以下特点： 
可测量太阳能级多晶硅块、单晶硅棒少数载流子体寿命。表面无需抛光，直接对切割面或研磨面进行测量，仪器可按需方提供的有标称值的校准样品调试寿命值。 
1.1 可测量太阳能级单晶及多晶硅片少数载流子的相对寿命，表面无需抛光、钝化。 
1.2 液晶屏上直接显示少子寿命值，同时在线显示光电导衰退波形。 
1.3 配置的红外光源：0.904～0.905μm波长红外脉冲激光器，光穿透硅晶体深度较浅≈30μm，但光强较强，有利于测量低阻太阳能级硅晶体少数载流子体寿命，脉冲功率30W。 
1.4 专门为消除陷进效应增加了红外低光照。 
1.5 测量范围宽广 
测试仪可直接测量： 
a、研磨或切割面：电阻率≥0.5Ω•cm的单晶硅棒、定向结晶多晶硅块少子体寿命，切割片的少子相对寿命。 
b、抛光面：电阻率在0.5～0.01Ω•cm范围内的硅单晶、锗单晶厚度小于1mm的抛光片。 
2. 设备技术要求及性能指标 
2.1 少子寿命测试范围：0.5μs~6000μs              
2.2 样品的电阻率范围：ρ﹥0.1Ω·cm（非回炉料）               
2.3 测试速度：1分钟/片                       
2.4 红外光源波长： 0.904～0.905μm                    
2.5 高频振荡源：用石英谐振器，振荡频率：30MHZ 
2.6 前置放大器，放大倍数约25，频宽2HZ-2MHZ 
2.7 可测单晶尺寸：断面竖测： 
直径25mm-150mm；厚度2mm-500mm 
纵向卧测：直径5mm-20mm；长度50mm-200mm 
2.8 测量方式：采用数字示波器直接读数方式 
2.9 测试分辨率：数字存储示波器zui小分辨率0.01μs  
2.10 设备重量：20 Kg  
2.11 仪器电源：电源电压类型：单相210～230V,50Hz,带电源隔离、滤波、稳压，不能与未做保护措施的大功率、高频设备共用电源

产品名称：汽车密封条磨耗试验机 产品型号：TH-7088B

汽车密封条磨耗试验机 型号：TH-7088B 

汽车密封条磨耗试验机

一、用途及技术参数

(1).用途：

TH-7088B型汽车密封条磨耗试验机适用于各种汽车用植绒和涂层类导槽密封条及海绵涂层的门框密封条、门密封条、行李箱密封条等产品的耐磨耗试验。

(2).技术参数:

1 型式：6锤电动式

2 试片：各类密封条产品上取样；

3荷重：

250g（磨头＋磨杆）

325g（磨头＋磨杆＋钢印325砝码）

500g（磨头＋磨杆＋钢印500砝码）

1000g（磨头＋磨杆＋钢印1000砝码）

3000g（磨头＋磨杆＋钢印1000砝码＋钢印1000+砝码2只）

4磨耗行程：0-160mm

5磨耗头可调高度：0-50mm

     6磨耗速度调节范围： 10-90次/分钟

7设备体积：1020X850X630mm

设备结构特点

  1.液晶屏显示：

1.1触摸屏一级设置：

         A.设置磨耗试验速度

    B.设置磨耗行程  

    1.2触摸屏二级设置：

         A单独设定每个试验磨头对应的产品名称及产品批次.

    B单独设定每个试验磨头负载质量.

   C记录每个试验磨头试验次数。（单个磨头到达试验次数时提示提起到达试验次数的试验磨头）

   D可设定磨头种类（如：金属磨头，玻璃磨头，不锈钢磨头等）

    E可设定磨耗方式（如：湿磨，干磨）

   F扩展设定磨耗值（备用）：（取预磨平均值清零，磨耗试验结束得出磨耗值）

2.底座运行采用轮式直线导轨，接触面为线接触，相对于滚珠式直线导轨噪音更小，同时稳定性好。

3.摩擦头支架垂直安装，负载砝码直接安装在摩擦头支架上。

4.摩擦头支架采用进口直线导轨，无间隙，对试样无多余附着力。5.整体翻转式摩擦头支架座，需要更换磨头时可拔出锁紧销旋转90°，非常方便更换磨头。

6.在试样安装平台上，具有固定试样的开槽压板，两端用肘式制钳来固定压板。

  7.试验结果可打印，打印结果包括：磨耗速度，磨耗行程，每个磨头对应的试样名称及批次，每个试样的负载质量，每个试样的磨耗次数，每个试样的磨头种类及磨耗方式等等。

三、依据标准

TH-7088B汽车密封条磨耗试验机可满足国内外的各类标准：如德国大众技术标准TL52057、TL52417中的PV3313磨耗标准及L52641技术标准中的PV3366磨耗标准，中国汽车行业部标准《QC/T711-2004汽车密封条植绒耐磨性试验方法》、标准《GB/T21282-2007乘用车用橡塑密封条》等各类汽车密封条磨耗试验标准。

四、质量保证

质量保证事项

本试验机自出厂日期起免费服务期限为一年。

五、备注

本汽车密封条磨耗试验机可根据用户需求改进，需要加以补充或更正，使用方可以提供图纸或其它书面文字来进行说明。

产品名称：多功能EDA教学仿真实验仪 教学仿真实验仪 产品型号： PLH-12

多功能EDA教学仿真实验仪 教学仿真实验仪 型号： PLH-12

产品简介:

• 本产品是我公司根据各高校多年来在本科生、研究生开设EDA及数字系统设计自动化课程教学实践中研制开发的；
• 应用对象主要面向理工科本科生、研究生EDA实验及设计、也可用于科研人员从事单片机及可编程逻辑器件的数字系统开发设计；
• 系统提供了丰富的开放式的软硬件资源及中文使用说明书和演示实例，为用户提供了良好的运用CPLD/FPGA芯片和VHDL语言进行编程设计、仿真、下载和现场调试的开发环境；
• 该多功能开发系统满足从简单的数字电路到复杂的数字系统设计实验，开发验证，提高效率，芯片保密可靠。

特色配置:

⑴含CPLD和FPGA两套适配器 
⑵信号源频率范围：0.5Hz-50MHz,共32档次
⑶配置MAX+PLUSⅡ和QuartusII两套软件平台。
⑷主板硬件资源全部开放，可供学生自行设计综合性实验和创新性毕业设计。

主要模块:

• 128×64点阵LCD液晶屏（带背光）；
• 16×16点阵的LED汉字模块；
• 8位7段数码管；
• EPM7128SLC84-15控制芯片及适配器；
• IN51系列单片机；
• A/D， D/A转换模块；
• RS232串行通信接口；
• 交通灯、流水灯、蜂鸣器；
• 0.25Hz-50MHz宽带信号源；
• 去抖信号源、高低电平输出控制开;
• 4×4键盘、红外线收发模块、彩色流水灯、USB接口、DSP-JTAG
• EPF10K10LC84-4控制芯片及适配器（选件）
• EPM7064SLC44-10控制芯片及适配器（选件）

主要特点:

● 多功能：系统的软硬件配置既可实现可编程逻辑器件设计、编程、仿真、下载，可完成8位单片机（51系列）的开发设计，充分体现了MCU+FPGA/CPLD的SOC的的设计理念，实现了一机多用。
● 开放性：以开放式的系统总线结构和各功能实验模块构成, 支持ALTERA、AMD、XILINX、LATTICE，ATMEL等公司不同系列、不同门数规模的芯片。*克服了大多数传统产品只能进行演示性实验，而缺乏学生设计的硬件资源弊端，产品在系统板上对各类电源、信号源、外设套件资源等均提供了插座及接口，方便灵活地通过开关切换实现单片机控制系统、VHDL编程演示，或进行各模块的独立连接和设计。
● 实验内容多样化：既有普通教学实验，又有综合性开发设计实验。所有实验实例均来自各高校多年来在本科生、研究生教学实践，编程实例均已通过了编译、仿真、下载调试。内容安排依照基础练习→设计入门→实验与实践→综合设计→应用开发这*程为设计思想。使学生从简单模仿实验开始,逐渐锻炼成为产品开发的精英。
● 丰富具有特色的硬件资源配置：考虑到学生进行综合性开发设计的实际需要，主板除了常规的硬件模块外,还专门配置了4.194302MHz及50MHz晶振，可提供0.25Hz～50MHz宽频带方波信号,又提供了两路单脉冲消抖信号及高、低电平稳定信号，消除了输入信号时产生的瞬间抖动干扰。配置了+12、-12V、+5V及+1～+12V可调电源以满足各类实验的需要。
● 兼容性和扩充性：系统主板配置有支持各类套件如DSP仿真器的JTAG接口、USB接口、PS/2接口、二次开发的扩展接口及红外线接收、发送模块及接口，从而大大拓宽了系统的应用范围。实验系统芯片编程利用PC机并行口通信，不需要编程器，采用无源下载线。