里氏硬度计 硬度计 便携式硬度计
TC-HLN-11A里氏硬度计是一种新型的硬度测试仪器，它是根据的里氏（Dietmar Leeb）硬度测试原理利用的微处理器技术设计而成。

里氏硬度计 硬度计 便携式硬度计  型号：TC-HLN-11A

产品编号：TC-000919

产品说明

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冲击装置D: 用于大部分硬度测量
冲击装置DC :用于非常局促地方（孔内、圆柱园内）的测量
冲击装置D十15 :用于沟槽内或凹入的表面硬度测量
冲击装置E: 用于高硬度，碳化物含量高的工具钢的硬度测量
冲击装置C: 用于表面硬化了的部件，表面覆盖层，薄壁的硬度测量
冲击装置G: 仅用于布氏硬度650HB范围内的密实部件的硬度测量
冲击装置DL: 用于深槽槽底或型面（如齿面）等零件的测量
主要技术参数
示值误差: 相对误差±0．8％（LD=800时）
示值重复性*．8％（LD=800时）
硬度被测材料: 钢和铸钢、合金工具钢、灰铸铁、球墨铸铁、铸铝合金、铜锌合金（黄铜）、铜锡合金（青铜）、纯铜等
强度被测材料: 碳钢、铬钢、铬钒钢、铬镍钢、铬钼钢、铬锰硅钢、高强度钢、不锈钢
工作温度: 0--40℃
工作电压: 4.7V--6.0V
测试方向: 任意
整机重量: 0．675Kg（标准配置：硬度计主机十打印装置十冲击装置D）
外形尺寸: 270×86×47（mm）
一次充电工作时间: 约24小时里氏硬度计 硬度计 便携式硬度计 

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　TC-HLN-11A里氏硬度计是一种新型的硬度测试仪器，它是根据的里氏（Dietmar Leeb）硬度测试原理利用的微处理器技术设计而成。TC-HLN-11A里氏硬度计具有测试精度高、体积小、操作容易、携带方便，测量范围宽的特点。它可将测得的HL值自动转换成布氏、洛氏、维氏、肖氏等硬度值并打印记录，它还可配置适合于各种测试场合的配件。TC-HLN-11A里氏硬度计可以满足于各种测试环境和条件。
冲击装置名称 用途

手持式里氏硬度计 里氏硬度计 型号：TIME5310

手持式里氏硬度计产品特点： 
里氏硬度测量原理，便携性能好； 
采用数字化冲击装置，可配备所有7种探头，探头类型自动识别，更换时无需重新校准； 
外观新颖，热敏微型打印机隐藏式设计； 
可通过集成热敏微型打印机打印任意份数的测量结果； 
采用2.5英寸彩色TFT液晶显示屏，240´320图形点阵，262K彩色，带LED背光； 
显示屏背光亮度按键可调，适应不同的亮度环境； 
全中文显示，菜单式操作； 
主显示界面具有时间、存储器信息、电池信息、电子柱、差提示、冲击装置类型、帮助等信息内容，方便实用； 
HL、HV、HB、HRC、HRB、HS、HRA等7种硬度值及抗拉强度实现一次测量； 
大容量存储器，可存储1000组单次测量值、平均值、测量日期、冲击方向、次数、材料、硬度制等信息； 
可预先设置硬度值上、下限，出范围自动报警，方便用户批量测试的需要； 
具有示值软件校准功能； 
具有“锻钢（Steel）”材料，使用D/DC型冲击装置测试“锻钢”试样时，可直接读取HB值，省去人工查表的麻烦； 
兼容国内/国外转换表，布氏测量更准确； 
内置大容量锂离子电池及充电控制电路，有充电指示灯；电池无记忆效应，寿命长； 
具有USB接口，并可根据用户要求配备上位机软件，测量数据能以Word或Excel格式传输到上位机，满足质量保证活动和管理的更高要求； 
5分钟无操作自动关机。 
技术参数 测量范围 170~960HLD 
示值误差和示值重复性 示值误差： ±6HLD（790±40HLD时） 重复性误差：6HLD（790±40HLD时）  
测量方向 360。  
硬度制 HL、HB、HRA、HRB、HRC、HV、HS 
显示 2.5英寸TFT液晶显示器，240´320图形点阵，262K彩色  
数据存储 1000组测量数据，包含相关测量信息  
上下限设置范围 同测量范围  
工作电压 3.7V 
充电时间 约6小时  
充电电源 12V/500mA 
可持续工作时间 约20小时  
通讯接口标准 USB2.0 
标配 主机、D型数字化冲击装置、标准里氏硬度块、小支承环、充电器、热敏打印纸  
可选附件 其它数字化冲击装置、各种异型支承环、上位机软件 

里氏硬度计型号:TIME5104

TIME5104里氏硬度计是一种新型的袖珍式一体化硬度测试仪器，主要适用于测试金属材料的硬度，具有测试精度高、体积小、操作容易、携带方便，测量范围宽的特点，它是以里氏硬度为原理，测出里氏（HL）硬度值经过程序自动转换成布氏，洛氏，维氏，肖氏等硬度值,还可以配置各种测试配件，来满足于各种测试条件和环境，主要适用于金属材料的快速硬度测试，特别适宜对大型零部件及不可拆卸部件的现场硬度测试。 
产品特色：  
 ●TIME5104里氏硬度计是一种良好的袖珍型硬度检测仪器，携带方便易于操作； 
 ●全中文菜单式操作，背光显示； 
 ●可预先设置硬度值上、下限，出范围自动报警； 
 ●具有示值软校准功能； 
 ●USB接口，可配备微机软件，满足质量和管理的更高要求； 
 ●可储存270个平均值，分为9个文件，方便存取； 
 ●可测试六种硬度制（HV、HRC、HRB、HB、HV、HS），之间的转换； 
 ●可外接打印机，打印测试结果； 
 ●带有电压显示和欠电提示，有欠压自动关机功能 
 ●TH174配有DL型冲击装置； 
 ●直接测试大型、重型的试件或已安装*性的组装部件； 
 ●体积小易于大型工件的测试狭小空间 
型 号TIME5104 
测量范围见表1 
示值误差和示值重复性见表2 
冲击装置DL 
测量方向任意 
上下限设置范围（170-960）HLD 
电 源AAA尺寸(7#)1.5V干电池2节 
工作温度0-40℃ 
通讯接口标准USB2.0 
外型尺寸155mm×55mm×25mm 
重 量约166g

产品名称：四探针测试仪/四探针电阻率测试仪/四探针检测仪/单测四探针检测仪(不能接电脑） 产品型号：QT-RTS-4（SDY-4替代）

四探针测试仪/四探针电阻率测试仪/四探针检测仪/单测四探针检测仪(不能接电脑） 型号：QT-RTS-4（SDY-4替代） 
QT-RTS-4型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的仪器。 
    仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。 
    仪器采用了电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。 
    本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。 
QT-RTS-4型四探针软件测试系统是一个运行在计算机上拥有友好测试界面的用户程序，通过此测试程序辅助使用户简便地进行各项测试及获得测试数据并对测试数据进行统计分析。 
    测试程序控制四探针测试仪进行测量并采集测试数据，把采集到的数据在计算机中加以分析，然后把测试数据以表格，图形直观地记录、显示出来。用户可对采集到的数据在电脑中保存或者打印以备日后参考和查看，还可以把采集到的数据输出到Excel中，让用户对数据进行各种数据分析 
技术参数： 
 测量范围 电阻率：0.001～200Ω.cm(可扩展)；   
 方块电阻：0.01～2000Ω/□(可扩展)；  
 电导率：0.005～1000 s/cm；  
 电阻：0.001～200Ω.cm；  

可测晶片直径 140mmX150mm(配S-2A型测试台)； 
 200mmX200mm(配S-2B型测试台)； 
 400mmX500mm(配S-2C型测试台)； 
恒流源 电流量程分为0.1mA、1mA、10mA、100mA四档，各档电流连续可调 
数字电压表 量程及表示形式：000.00～199.99mV；　　　　 
 分辨力：10μV； 
 输入阻抗：>1000MΩ； 
 精度：±0.1% ； 
 显示：四位半红色发光管数字显示；性、量程自动显示； 
四探针探头基本指标 间距：1±0.01mm； 
 针间缘电阻：≥1000MΩ；  
 机械游移率：≤0.3%； 
 探针：碳化钨或高速钢Ф0.5mm； 
 探针压力：5～16 牛顿(总力)； 
四探针探头应用参数 (见探头附带的合格证) 
模拟电阻测量相对误差 
( 按JJG508-87进行) 0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字 
整机测量zui大相对误差(用硅标样片：0.01-180Ω.cm测试)≤±5% 
整机测量标准不确定度 ≤5% 
计算机通讯接口 并口 
标准使用环境 温度：23±2℃； 
 相对湿度：≤65%； 
 无高频干扰； 
 无强光直射；