多功能薄膜特性测试仪
仪器由四探针测试仪和薄膜电导率测量仪两部分组成。具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、测量范围宽、结构紧凑、使用方便等特点。仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能的测试。

多功能薄膜特性测试仪 型号：TC-DHFC-1
仪器由四探针测试仪和薄膜电导率测量仪两部分组成。具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、测量范围宽、结构紧凑、使用方便等特点。仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能的测试。

    四探针测试仪由主机、测试架等部分组成。可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）、功能材料暗电导和光电导及温度的变化的特性，还可以对金属导体的低、中值电阻进行测量。测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长。
多功能薄膜特性测试仪    薄膜电导率测量仪由样品室、温控系统、真空系统、高阻测量系统等部分组成。
◆ 测量范围：电阻测量范围：1×106～1×1017Ω；
     电阻率：0.001～200Ωcm；
     电导率：0.005～1000s/cm；
◆ 可测晶片直径： 200mmX200mm；
◆ 探针：碳化钨或高速钢；探针间距：1±0.01mm；
◆ 针间缘电阻：≥1000MΩ； 
机械游移率：≤0.3%；
◆ 本底真空度：≤10Pa，气压可控范围：10～400Pa；
◆ 衬底加热 温度：室温～200℃。
 

产品名称：磁力洛氏硬度计/洛氏硬度计/洛氏硬度仪 产品型号：RCT-TH400/410

磁力洛氏硬度计/洛氏硬度计/洛氏硬度仪 型号：RCT-TH400/410

●利用磁力吸盘将硬度计固定在钢铁工件表面，无需支撑，无需取样，不用移动工件，只要单侧接触即可完成测试。 
●与台式机相同的试验原理和精度，RCT-TH400符合标准GB/T230、ISO6508和ASTM E110，RCT-TH410符合标准GB/T230和GB/T231，经中国计量院检测，误差不大于1.5HR。 
●测试快速，简便，无损。

●如千分尺一样的鼓轮读数机构，读数方便，重复性好，精度高。

●配有带灯放大镜，保证在车间较暗处使用时读数方便。

●可测试平面工件及曲率从Φ50mm到无穷大的曲面工件。

●用于现场精确测试钢板、钢管、轴类、模具、大锻件及各种大中型热处理零件、表面淬火及组装设备上的零件，特别适于测试焊缝和热影响区的硬度。

●用于生产检验和验收检验，可代替精度不高的里氏硬度计。 
●可溯源的标准硬度块。 
●经标准洛氏硬度计检验合格的压头。 
●用于校验试验力的测力仪可溯源到副基准

技术参数；

产品名称： 数显式颗粒强度测定仪 智能颗粒强度测定仪 产品型号：KC-3T

数显式颗粒强度测定仪 智能颗粒强度测定仪  型号：KC-3T  

一、概述 
   KC-3T 智能颗粒强度测定仪 采用良好的测量控制技术，可自动完成加力、测量显示、大强度值的锁定及复位等操作，是一种自动化程度较高、测量范围较宽的新型仪器，该仪器具有体积小、测量值直读、精度高、使用方便等优点，是颗粒强度测定理想的新型仪器。 
二、KC-3T 智能颗粒强度测定仪主要技术指标： 
1.电源电压：AC220V±10% 40W 
2.环境温度：0℃～40℃
3.相对湿度：≤85% 
4.颗粒直径：≤25mm 
5.测量范围：5N～500N 
6.分辨率：1N 
7.测量精度：≤0.5%FS  
8.外型尺寸：225mm×325mm×330mm 
9.重量：10㎏  
三、KC-3T 智能颗粒强度测定仪使用方法   
1.接通电源，显示器显示000，如偏离零点过多，应用螺丝刀微调调零钮，使之为000附近。 
2.将试验门窗打开，将样品置于样品盘中心位置，关好试验窗门。按下启动键，直线电机即自动加力，接触到样品时，显示器即有实时数据输出，当样品破碎时，蜂鸣器短促鸣叫一声以作提示，受力数大值（强度值）即被锁定，同时直线电机反向运行，直至复位状态停止。 
3.继续试验时，将样品中的残留物清除，按下复位键，重复上述步骤。
4.当样品强度过大，显示数值过500N（出厂时报警值设定在500N内），仪器蜂鸣器鸣叫，复位键上的红色发光管亮起，则提示量程报警，直线电机自动反向运行，直至复位状态，此时显示器锁定的为无效数值。 
四、KC-3T 智能颗粒强度测定仪注意事项 
1．必须提供具有良好接地线的电源插座。  
2．禁止敞开试验窗门工作，以免样品破碎物飞溅伤人。 
3．当颗粒强度显示大于500N时，可手动按复位，不比等待仪器自动复位。