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手持式温湿度变送器TC-WAS-S
简要描述:

手持式温湿度变送器TC-WAS-S
TC-WAS-S 系列LCD手持式温湿度显示仪主要应用于车间,厂房,仓库,图书馆,办公室,微机房,实验室等环境温湿度的监控。产品采用高性能湿敏电容式数字温湿度传感器,工业级LCD显示,具有美观、清晰等优点,是传统温湿度计的理想替代品。

  • 产品型号:TC-WAS-S
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2019-07-19
  • 访  问  量:1024

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详细介绍

手持式温湿度变送器TC-WAS-S

一、产品介绍

TC-WAS-S 系列LCD手持式温湿度显示仪主要应用于车间,厂房,仓库,图书馆,办公室,微机房,实验室等环境温湿度的监控。产品采用高性能湿敏电容式数字温湿度传感器,工业级LCD显示,具有美观、清晰等优点,是传统温湿度计的理想替代品。  手持式温湿度变送器TC-WAS-S

 技术性能:

 

技术参数供电4.5VDC(三节7号1.5V电池)
显示量程温度:-25到75℃ 湿度:0-99.9%RH
显示方式温湿度双通道LCD显示
精 度温度:±0.2℃ 湿度:±2%RH
有效测量范围温度:-25~75℃ 湿度:0-100%RH
分辨率温度:0.1℃ 湿度:0.1%RH
长期稳定性温度:<+-0.2℃/年 湿度:<+-0.5%RH
存储条件温度:0-60℃ 湿度:0-90%RH

此款温湿度计是工业级别产品,可应用于工业和民用场合。湿度、温度测量范围宽,测量精度高(国产zui高精度)。
   LCD采用工业级显示屏,在-25~75℃之间可以可靠地显示温度、湿度值。而市场上一般的温湿度计的显示屏适应的温度范围是0-50℃。

 

 

产品名称:洛氏硬度计/硬度计/洛氏硬度仪
产品型号: TYC-TH301

洛氏硬度计/硬度计/洛氏硬度仪 型号: TYC-TH301

本硬度计为台式洛氏硬度计,采用洛氏(ROCKWELL)测量原理,用于碳钢、合金钢、铸铁、有色金属及工程塑料等材料的硬度检测,具有测试精度高,测量范围宽,主试验力自动加卸载,测量结果数字显示并自动打印或与外部计算机通讯等特点。广泛应用于计量、机械制造、冶金、化工、建材等行业的检测、科研与生产。

功率特点:

本硬度计采用特殊的压头结构(俗称“凸鼻子”结构 ),除了可进行一般传统洛氏硬度计所能完成的测试外,还可能测试传统洛氏硬度计无法测到的表面,如环状、管状等零件内表面。
技术参数:

 

硬度标尺

洛氏A,B,C,D,E,F,G,H,K,L,M,P,R,S,V共15种标尺

分辨力

0.1HR

初试验力

98.07N/10kgf

总试验力

588.4N/60kgf, 980.7N/100kgf,1471N/150kgf

试验力转换方式

根据所选标尺自动切换三种试验力

通讯口

RS232、USB双通讯口

时钟功能

自动显示、打印测试时间

显示

高清晰背光点阵LCD

菜单文本

中文

操作方法

薄膜按键

测试过程

自动完成

试验力加载时间

2-50秒,可设定并动态显示、存储

数据存储

自动存储500组测试结果、序号、日期

辅助功能

上下限设置,差判别报警; 
数据统计,求平均值,标准差,zui大值,zui小值; 
标尺转换,可将测试结果转换为布氏HB、维氏HV、
里氏H表面洛氏硬度以及拉伸强度σb; 
曲面修正,对柱面、球面测量结果自动修正

执行标准

GB/T230 ,ISO6508 ,BSEN10109 ,ASTTM E-18

zui大测试空间

垂直方向260mm,水平方向150mm

测试零件种类

平面;柱面,zui小外径3mm;内环表面, zui小内径23mm

供电

220V/110V, 50Hz, 4A

尺寸

715mm×225mm×790mm

净重

100kg

 

产品名称:多功能数字式四探针测试仪
产品型号: ST2258C

多功能数字式四探针测试仪 型号: ST2258C

概述

      ST2258C型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。 
      ST2258C型多功能数字式四探针测试仪成套组成:由主机、选配的四探针探头、测试台等部分组成。 
主机主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入;具有零位、满度自校功能;电压电流全自动转换量程;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪特赠设测试结果分类功能,大分类10类。 
      探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配探头,也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。   
      测试台选配:一般四探针法测试电阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选SZT-K型测试台,也可选配SZT-D型测试台以测试半导体粉末电阻率,选配SZT-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》   
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。   
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。 

 基本技术参数

1. 测量范围、分辨率(括号内为可向下拓展1个数量级) 
    电    阻:10.0×10-6 ~ 200.0×10 Ω,    分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×10 Ω 
               (1.0×10-6 ~ 20.00×10 Ω,    分辨率0.1×10-~ 0.01×103 Ω) 
    电 阻 率:10.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω-cm   分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×10 Ω-cm 
               (1.0×10-6 ~ 20.00×10Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω-cm) 
    方块电阻:50.0×10-6 ~ 1.0×106 Ω/□    分辨率5.0×10-6 ~ 0.5×10 Ω/□  
               (5.0×10-6 ~ 100.0×103 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ~ 0.1×10 Ω/□)   
2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定) 
    直    径: SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15~130mm,手持方式不限 
    SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm,手持方式不限. 
     长(高)度:  测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
     测量方位:  轴向、径向均可 
3. 量程划分及误差等级 

满度显示

200.0

20.00

2.000

200.0

20.00

2.000

200.0

20.00

2.000

常规量程

kΩ-cm/□

kΩ-cm/□

Ω-cm/□

mΩ-cm/□

---

大拓展量程

---

kΩ-cm/□

Ω-cm/□

mΩ-cm/□

mΩ-cm/□

基本误差

±2%FSB

±4LSB

±1.5%FSB

±4LSB

±0.5%FSB±2LSB

±0.5%FSB

±4LSB

±1.0%FSB

±4LSB

 

4.工作电源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W 
5.外形尺寸: 245mm(长)×220 mm(宽)×95mm(高)  
   净   重:≤1.5~2.0kg 

 

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