笔式硬度计NORS80
NORS 80里氏硬度计是一款良好的掌上型金属硬度测试仪。该仪器具有重量轻、易操作、集成化设计、高对比显示、低操作温度及高精度等特点，可以广泛应用于测量几乎所有磁性、非磁性金属材料，并具有里氏、洛氏C、洛氏B、洛氏A、布氏、维氏、肖氏及强度单位转换；特别小型的体积使其能够在其它硬度仪难以测量的狭小空间内进行测量。

产品名称：数字式四探针测试仪 产品型号：SZT-4

数字式四探针测试仪型号：SZT-4

SZT-4数字式四探针测试仪，是二量程的电阻测量仪器，配以手持式测试头或座式测试架，可用来测量片状，柱状，或块状，电阻率在0.01~200欧姆/厘范围内的半导体材料。(客户根据不同的要求可以选择不同的量程，Z小可以测量0.0001Ω Z大可以测量100000Ω,根据电流档定精度)通过对恒流源的调整，可以对某些测量结果进行修整，例如对普通硅材料的测试结果要乘以0.628的探险头修正系数，对硅材料薄层扩散和导电薄膜 “方块电阻“ 的修正系数为4.53等均可通过调正恒流电流加以处理。SZT－4数字式四探针测试仪，体形小巧，操作方便，量程适中，十分适於对重炼回料的分选。 
本仪器工作环境条件为： 
温　　度：18℃―25℃ 
相对湿度：60%－80% 
工作室内应无强电场干扰，不与高频设备共用电源。 
二，SZT-4数字式四探针测试仪技术参数 
1,测量范围 
电 阻 率:0.01-200Ω-cm 
方块电阻:0.01-200Ω-口 
电    阻:0.01-200.0 
2,数字电压表  
(1)量    程:200mV单一量程 
(2)误    差:读数 ±0.2%±3字 
(3)输入电阻:>10MΩ 
3,恒流源 
(1)电流输出:0~10mA连续可调 
(2)量    程:1mA, 10mA 
(3)误    差:±0.2%±3字, 
4,手持式四探针测试头 
(1)探  针  间  距:1mm 
(2)探针机械游移率:±1.0% 
(3)探  针  材  料:碳化钨,φ0. 
(4)压力:Z大 2Kg 
5,电源:220V±10%：50Hz 
功耗：5W 
6，外形尺寸： 
7，使用方法：取出仪器平放於桌上，将三芯电源线接入仪器的电源插座中，并接通交流电压（220V），再将测试探头的插头插入相应的插座中，按下电源开关使仪器得电，仪器上的数字电压表就有读数显示，如果面板上的二个功能开关全部处於弹出状态，则二个开关旁边的“调整”指示灯和：“1mA”指示灯将被点亮，此时旋转电流调节旋钮电压表读数就会发生有规则的变化，这说明仪器已经可以正常工作。 
下一步就可以跟据测试的须要对电流进行调整。电流调整应该将电流开关放在10mA的位置上。 
8，电流调整： 
（1）半导体（硅）材料的电阻率测试：在10mA电流量程上将电流调到6.28mA,相当于在10mA电流情况下测得的结果,乘以探头修正系数0.628。由於恒流源的调整，1mA和10mA是同步的，在`10mA调准以后1mA量程同样包含有这个修正系数。 
（2）半导体（硅）材料薄层扩散，玻璃或塑料的薄导电镀复层的方块电阻 测试:在10mA电流量程上将电流调至4.53mA, 测得结果乘以10,就是方块电阻。 
（3）电阻测试：电阻测试不能使用探头，必须换用带有鳄鱼夹子的四线插头“电阻测试线”（选配件）。电流调到10mA,电压表的显示值就是电阻值，不用修正。 
（4）在做好测试前的准备工作之后，取下探头保护盖，将探头压在被测工件上，使四根探针和工件保持良好接触， 
使用时的注意事项； 
（1）保护盖取下后一定要保存好，用毕仍要盖好，以防探针损坏。 
（2）仪器操作时，应备戴乾燥手套，操作场地，桌椅均应保持乾燥。 
（3）在被测材料外形尺寸允许的情况下，建议使用台式测试架（选购件），可使测试精度和稳定性都会有所提高。 
（4）对於被测工件为片状其厚度<3.49毫米时,还应对测试结果进行厚度修正,修正参数见参数表,附录`1A和附录1B 。 
（5）附录2，是对片状工件外形（园形，矩形）和测量位置的修正参数表。