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数字兆欧表TC-ET2672
本仪表是电力、邮电、通信、机电安装和维修以及利用电力作为工业动力或能源的工业企业部门常用而*的仪表。它适用于测量各种缘材料的电阻值及变压器、电机、电缆及电器设备等的缘电阻。
1.工作原理:
TC-ET2672数字兆欧表由中大规模集成电路组成。本表输出功率大,短路电流值高,输出电压等级多(有四个电压等级)。工作原理为由机内电池作为电源经DC/DC变换产生的直流高压由E出经被测试品到达L,从而产生一个从E到L的电流,经过I/V变换经除法器完成运算直接将被测的缘电阻值由LCD显示出来。 数字兆欧表TC-ET2672
TC-ET2672数字兆欧表的产品别称:
数字兆欧表、数字式兆欧表、数显兆欧表、缘表、缘电阻测试仪、高压缘电阻测试仪、缘电阻测量仪、缘特性测试仪、电动摇表、数字兆欧计、数字式兆欧计、高压数字缘电阻测试仪、数字高压缘电阻测试仪、数字高压兆欧表、数字式高压兆欧表、高压数字式兆欧表、数字缘表、数显缘表
TC-ET2672数字兆欧表的产品特征
● 输出功率大、带载能力强,抗干扰能力强。
本表外壳由高强度铝合金组成,机内设有等电位保护环和四阶有源低通滤波器,对外界工频及强电磁场可起到有效的屏蔽作用。对容性试品测量由于输出短路电流大于1.6mA,很容易使测试电压迅速上升到输出电压的额定值。对于低阻值测量由于采用比例法设计故电压下落并不影响测试精度。
● 本仪表不需人力作功,由电池供电,量程可自动转换。一目了然的面板操作和LCD显示使得测量十分方便和迅捷。
● 本表输出短路电流可直接测量,不需带载测量进行估算。
TC-ET2672数字兆欧表的产品参数
1. 输出电压等级:500V,1000V,2500V,5000V
2. 测量范围:0~19999MΩ
3. 相对误差:≤±4%±1d
4. 分辨率:0.01 MΩ,0.1 MΩ,1.0 MΩ,10.0 MΩ
5. 电压负载:5000V/40 MΩ
6. 电压跌落:约10%
7. 短路电流:>1.6mA
8. 电源适用范围,功率损耗
直流:8×1.5V(AA, R6)电池或充电电池
交流:220V/50Hz
功耗:静态功耗≤160mW;zui大功率≤2.5W。
9. 使用条件
环境温度:0℃~+45℃
相对湿度:≤85%RH
10.体积与重量
体积:235mm×200mm×135mm
重量:<1.4kg
产品名称:手持式数字功率计 美国鸟牌数字功率计 产品型号:MODEL 5000-XT |
【简单介绍】
MODEL 5000-XT是全新设计的一款手持式数字功率计,非常适合工程现场的测量与读数。MODEL 5000-XT配合多种数字功率传感器使用,可测量VSWR、平均功率、峰值功率、突发平均功率、峰均比、CCDF等指标。
【详细说明】
主要特点
• 高可视度,背光VGA显示屏能够同时以数字显示正向功率或反向功率和其他可选参数 • 应用广泛,*3G移动通信测试需求 • 中文操作界面,读数方便,功率读数单位可在W与dB之间互相切换 • 无需计算,可直接读出电压驻波比VSWR,回波损耗等反射参数 • 数据记录功能,1G的存储器可存储约7天的测试数据 • 长达60小时的电池续航能力 • 体积小,重量轻,便于携带 性能指标
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产品名称:ROHS及无卤素检测仪 ROHS及无卤素测试仪 产品型号:TC-X-5600 |
ROHS及无卤素检测仪 ROHS及无卤素测试仪 型号:TC-X-5600
产品详情:
TC-X-5600是一种体现X射线荧光分析技术进展的能量色散X射线荧光光谱仪。可进行无卤素(氯Cl、溴Br、碘I)测量它采用低功率小型X光管为激发源,电制冷硅半导体探测器为探测单元,再加上我公司专门开发的应用软件,充分发挥各部件的优异性能,保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方,正是它大有作为之处。下面将该仪器的资料作简单介绍。
整机技术规格:
激发源:本机采用低功率 X 射线管(Ag靶),zui高电压可达50KV,zui大电流1mA
高压电源:zui大50W,50KV,1mA
探测器:电制冷 Si PIN半导体探测器(55Fe的能量为5.9Kev的MnKα线,分辨率优于149eV)
多道分析器:2048道
软件:基于WINDOWS的强大工作软件。定量分析包括:经验系数法,理论a系数法和基本参数法。定性分析包括: KL线标记,谱图比较和光标寻峰等。客户可进行二次开发,自行开发任意多个分析方法。
6电源:交流220V 50Hz
7体积:520mm x 600mm x 270mm
8重量:约 42kg (主机)
整机技术性能:
测量元素范围宽:从铝(13)至铀(92)都可测量
可测量含量范围,从ppm至100%
测量速度快,通常为几十秒到几分钟
多元素同时定性定量
蜂位漂移:八小时小于1%
进口探测器的性能指标:
探测器类型:电制冷Si-PIN
探测面积:2.4x2.8mm(6mm2)
硅活化区厚度:500um
探测器分辨率: 对于55Fe,@5.9keV 对于12us的形成时间,半高宽为149Ev
探测器窗口:铍窗,12.5um厚
进口高压电源规格:
电压和电流从零至满量程连续可调,zui大50KV,1mA
电压调整率:负载调整率:从空载到满载,电压变化为满量程的 0.01 %
线性调整率:对于规定的输入电压范围,该数值为满量程的0.01%
电流调整率:负载调整率:从空载到满载,电流变化为满量程0.01%
线性调整率:对于规定的输入电流范围,该数值为满量程的0.01%
稳定性:经过半小时预热后,每8小时变化不0.05%
温度系数:温度变化一度,电压变化不过0.01%
详细参数:
测量范围:Pb,Hg,Cr,Cd,Br,Cl
测量精度:低于100ppm时精确度15ppm,大于100ppm时,精确度15%
分析元素:Pb,Hg,Cr,Cd,Br,Cl
检出限:Pb:3.2 mg/kg (ppm)
Hg:3.2 mg/kg (ppm)
Cr:4.1 mg/kg (ppm)
Cd:5.8 mg/kg (ppm)
Br:3.1 mg/kg (ppm)
Cl:2.4 mg/kg (ppm)
测量时间:30秒——120秒可选
X射线源:X光管
工作环境温度:10℃——45℃
工作环境湿度:20%——80%
高压器:50Kv
操作系统:windows XP
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