详细介绍
导体材料电阻率检测仪 型号:TDW-02
本仪器按照半导体材料电阻率的及标准测试方法有关规定设计,它主要由电器测量部份(主机)及四探针探头组成。样品测试电流由高精宽的恒流源提供,随时可进行校准,以确保电阻率测量的准确度
主要技术指标: 。
对0.1~199.9Ω*cm标准样片的测量误差不过±5%。
(1)测量范围:可测量电阻率:0.1~199.9Ω*cm。
zui大电阻测量误差(按JJG508-87进行):
0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±5%
适合测量各种厚度的硅片,可测晶片直径(zui大)
园形Ф100mm 方形230×220mm
(2)恒流源:
输出电流:0.01~1mA连续可调,误差≦±0.5%。恒流精度:各档均优于±0.1%
(3)直流数字电压表
测量范围:0.1~199.9mv 灵敏度:100μv 准确度:0.2%(±2个字)
当没有测量时,表上数字不归零属于正常,是其自身处于自动扫描状态
(4)供电电源:AC: 220V ±10%(保护隔离) 50/60HZ 功率2W
(5)四探针探头; a.钨钢探针或高速钢探针 b.间距1±0.01mm
c.针尖缘电阻≥100mΩ d.机械游移率≦1.0% e.探针压力 12-16牛顿(总力)
(6) 使用环境:
温度23±2℃,相对湿度≤80% 无较强的电场干扰 无强光直接照射
(7) 使用方法;
a. 使用仪器前将电源线、测试笔联接线与主机联接好,电源线插头插入~220V座插后,开启背板上的电源开关,此时前面板上的数字表、发光二管都会亮起来。探针头压在被测单晶上,右边的表显示从1、4探针流入单晶的测量电流,左边的表显示电阻率或2、3探针间的电位差。电流大小通过旋转前面板右上方的电位器旋钮加以调节b. 校准设备:厚度小于3.98mm的(本公司提供厚度小于3.98mm的标准电流修正系数表)取与要备测试硅材料厚度相同的硅材料标准样块校准电阻率测试仪,测试厚度大于3.98mm的硅材料可取厚度大于3.98mm的任一标准样块校准电阻率测试仪。
c.测试: 用四探针接触硅材料,以探针压下三分之二为准,待仪器显示数字稳定即可.
d. 校验:在测试过程中要求每隔2小时用标准样块校准一次设备
一般情况下,除了信号传输线的断裂引起的故障外, 针的维护主要包括针头的更换和针头 的 清理清洁工作
维护后的安装及维护过程中,必须注意安装过程中的排线位置,按绿红黄黑(1234)位置排列。
导体材料电阻率检测仪
产品名称:低温恒温槽 恒温槽 产品型号:WGDCZ |
低温恒温槽 恒温槽型号:WGDCZ
特点:
微机温控恒温,采用单片机控制,自整定PID 调节;采用进口日本产(PT100)铂电阻测温,控温精度高,温度波动小;采用优质全封闭技犬的压缩机,制冷效率高.嗓声低。仪器工作稳定可靠,操作方便安全。
该产品具有以下优点:
.恒温槽采用单片机温控,自整定控制技术,控温精度高。
.采用全封技术压缩机,降温快,嗓声低。
.设定温度和测量温度用二组数字窗口分别显示。
.循环泵可进行恒温液体对外循环。
.具有断偶保护功能。
.具有上下限保护功能。
低温恒温槽广泛适用于生物工程,医药,食品,化工,冶金.石油等领域。为用户提供一个高精度的,受控的,温度均匀的恒温源。是研究所,高等院校,工厂实验室.质检部门*的产品。
本机型OC02Z 是为各类阿贝折射仪配套适用而设计的产品.具有温度恒定,体积小.操作简便等优点,性价比高。
主要技术参数:
温度范围:4 ℃ 一95 ℃
显示分辨率:0.1 ℃
温度波动度:± 0.1℃ ,介质为水
内胆容积:2 L
泵循环方式:外循环
泵流量:4L
控制方式:微机温控,PID调节.Pt100 测温
制冷方式:压缩机
今工作电压:220V±22V . 50HZ 450W
仪器尺寸:360mm × 400mm × 265mm
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